质擎QualEngine 培训 / 直方图
第 05 篇 \(\cdot\) 旧 QC 七大手法

直方图Histogram

定 义(DEFINITION)

直方图(Histogram)是把连续型数据的取值区间分成若干组(bins),以柱高表示各组频数的统计图。它用于观察数据的分布形态(集中/离散/偏斜/双峰/孤岛),并结合规格限(USL/LSL)评估过程能力(Cp/Cpk)。与条形图不同,直方图的柱是连续区间、无间隙。

一句话总结直方图回答「数据长什么样」——看分布形态与规格的匹配,比只看均值/std 信息多得多。

适用场景

  • 看连续数据的分布形态
  • 评估过程能力(Pp/Ppk,有子组再 Cp/Cpk)
  • 识别偏斜/双峰/孤岛
  • 与规格限比较
  • 层别后单层看分布

使用前提与禁忌

  • 前提:连续型数据;\(n\geq 50\)(能力分析建议\(\geq 100\));等宽分组;能给出 USL/LSL
  • 禁忌:样本太小分组失真
  • 禁忌:组数过多/过少
  • 禁忌:当条形图用(留间隙)
  • 禁忌:不标规格线就谈能力
  • 禁忌:忽略异常形态直接下结论

核心思想

直方图把「一堆数」变成「形状」。均值和标准差只给两个点,直方图给整体形态:是否对称、有没有双峰(可能混了两条线)、有没有孤岛(异常批)。再叠规格线就能谈能力。它看不出时间顺序——过程是否受控要靠控制图(第7篇)。

计算方法 \(\to\)试算表 \(\to\)查看案例 \(\to\)
计算方法分组 + 正态拟合 + 能力

组数 \(k\approx 1+log_{2}n\);各组频数/组距得柱高;先看形态、再做正态性与离群检验,最后叠规格线算 Pp/Ppk(有子组再算 Cp/Cpk)。

① 组数 公式
k = round(1 + \(log_{2}\) n),至少 5

样本量定组数,n=50 约 7 组。

② 组距 公式
\(h = \frac{max - min}{k}\)

各组等宽。

分组实操要点(现场最易踩坑)

  • 组界约定:起点取比最小值略小、且为测量单位整数倍;统一「左闭右开 [a, b)」,避免边界值归属不明。
  • 组数经验表:n=50~100 \(\to\) 6~10 组;100~250 \(\to\) 7~12 组;>250 \(\to\) 10~20 组(比公式更常用)。
  • 组距取整:h 取测量单位最小整数倍,避免 19.398~19.677 这类难读边界。
  • 组数不当后果:太少\(\to\)掩双峰/孤岛;太多\(\to\)锯齿、噪声当家。
③ 分布形态识别直方图真正的教学重点

均值和标准差只给两个点;形态才告诉你过程出了什么问题。先看形状,再谈能力。

形态示意特征常见成因下一步 / 对策
对称型
中间高、两侧对称渐低过程稳定、无特殊原因直接算能力
右偏
右侧拖尾单侧公差、自然界限(接近0)、加工习惯、已剔除单侧不合格先查是否人为剔除 / 调中心;必要时变换
左偏
左侧拖尾同上(方向相反)调中心或数据变换
双峰
两个明显峰设备 / 料 / 班次 / 产线混合立刻层别,不要先算能力
孤岛
主分布旁孤立小峰异常批混入、换料、测量错误、临时插单剔除并追溯该批
平顶 / 高原
各柱高接近、顶部平缓多个过程混合、分组过宽、数据修约层别或重新分组
锯齿
高低交替组数过多、数据修约到整数、疑似编造减组数;核查数据真实性
断崖 / 截尾
一侧被削平全检剔除不合格品后只留合格品、量具分辨力不足追剔除记录——过程已失控的铁证
离群柱
单根柱远离主体异常值 / 测量错误先做离群检验(Grubbs / 箱线图)再决定去留
④ 过程能力:Pp/Ppk 与 Cp/Cpk\(\sigma\) 口径不同
整体能力(长期)\(\cdot\) Pp / Ppk 本页算法
\(Pp = \frac{USL - LSL}{6\sigma_{\mathrm{overall}}}\)\(Ppk = \frac{min(USL-\mu, \mu-LSL)}{3\sigma_{\mathrm{overall}}}\)

\(\sigma_{\mathrm{overall}}\) = 全部数据的样本标准差。无子组、只有一批数据时只能算 Pp/Ppk。

潜在能力(短期)\(\cdot\) Cp / Cpk 需子组
\(Cp = \frac{USL - LSL}{6\sigma_{\mathrm{within}}}\)\(Cpk = \frac{min(USL-\mu, \mu-LSL)}{3\sigma_{\mathrm{within}}}\)

\(\sigma_{\mathrm{within}}\) = 组内波动(\(\bar{R}/d_{2}\) 或 \(\bar{s}/c_{4}\)),反映过程固有 / 短期能力,需有子组才能算。

⚠️ 口径提醒:常见错误是——把整体 \(\sigma\) 算出的结果误标成 Cp / Cpk。整体 \(\sigma_{\mathrm{overall}}\) 只能得到 Pp / Ppk;真正的 Cp / Cpk 需组内 \(\sigma_{\mathrm{within}}\)(\(\bar{R}/d_{2}\) 或 \(\bar{s}/c_{4}\),有子组;或按时间序的单值移动极差 \(M\bar{R}/d_{2}\),\(d_{2}\)=1.128,见分步演示第⑥步)。两者 \(\sigma\) 口径不同,报告时务必区分,避免把「长期实际表现」写成「短期潜在能力」。(本页案例明确用整体 \(\sigma_{\mathrm{overall}}\) 算 Pp/Ppk,见下方「案例解读」。)

能力等级判定(Cpk / Ppk)

等级Cpk/Ppk\(\sigma\) 水平判定常规处置
A++\(\geq 2.00\)\(\sigma\) \(\geq\) 6.0特级可考虑简化检验
A+1.67~2.00\(\sigma\) 5.0~6.0优保持
A1.33~1.67\(\sigma\) 4.0~5.0良理想状态
B1.00~1.33\(\sigma\) 3.0~4.0一般需改进
C0.67~1.00\(\sigma\) 2.0~3.0差立即改善
D<0.67\(\sigma\) < 2.0不可接受停线整顿

\(\sigma\) 水平由「预期不良率」反推(\(\sigma_{\mathrm{bench}}\))。行业差异:IATF 16949 要求 PPAP 初始过程 \(Ppk\geq 1.67\)、量产 \(Cpk\geq 1.33\);医疗 / 航空更严。

能力指标全家福 + 不良率换算

指标公式 / 说明何时用
Cpu / Cpl\((USL-\mu)/3\sigma\)、\((\mu-LSL)/3\sigma\)单侧规格
Pp / Ppk整体 \(\sigma\)长期 / 实际表现
Cp / Cpk组内 \(\sigma_{\mathrm{within}}\)短期 / 潜在能力
Cpm\((USL-LSL)\) / \((6\sqrt{\sigma^{2}+(\mu-T)^{2}})\)考虑偏离目标值 T(田口)
Cpk(理想居中、无漂移)折算 \(\sigma\) 水平理论不良率
0.67\(2\sigma\)~45,500 ppm
1.00\(3\sigma\)~2,700 ppm
1.33\(4\sigma\)~63 ppm
1.67\(5\sigma\)~0.6 ppm
2.00\(6\sigma\)~0.002 ppm
Cpk(含 \(1.5\sigma\) 长期漂移)折算 \(\sigma\) 水平长期不良率
2.00\(6\sigma\)3.4 ppm
1.67\(5\sigma\)233 ppm
1.33\(4\sigma\)6,210 ppm
1.00\(3\sigma\)66,807 ppm
0.67\(2\sigma\)308,538 ppm
0.33\(1\sigma\)691,462 ppm

注:两张表口径不同,报告时须注明用的是哪一种——① 理想居中、无漂移(上表):折算 \(\sigma\) 水平 = 3 \(\times\) Cpk,即 2,700 ppm 对应 \(3\sigma\)、63 ppm 对应 \(4\sigma\),用于设备验收 / 短期能力确认;② 含 \(1.5\sigma\) 长期漂移(下表):即六西格玛常引的「3.4 ppm = \(6\sigma\)」口径,把过程均值长期会偏移 \(1.5\sigma\) 也计入不良,同一 Cpk 下不良率更高、更保守。报 Cpk 的同时给出 \(\sigma\) 水平,不熟悉能力指数的同事也能一眼看懂。

试算表练习 \(\to\)对照案例 \(\to\)分步演示 \(\to\)返回概念 \(\to\)
分步演示可播放 / 步进

以 50 个焊点厚度演示:原始值 \(\to\) 分组柱 \(\to\) 正态拟合 \(\to\) 标规格线判能力。

试算表练习 \(\to\)案例验证 \(\to\)返回概念 \(\to\)
试算表动手试 \(\cdot\) 实时重算

粘贴连续测量值,填 USL/LSL/目标,实时算 Pp/Ppk 并绘图(整体 \(\sigma\))。

对比案例 \(\to\)回看方法 \(\to\)
案例解读焊点厚度 \(\cdot\) 50 值 \(\cdot\) USL22/LSL18

分布居中、对称;是否正态须经正态性检验数值确认(见下方卡片),不能只靠目视。经 Grubbs 离群检验无显著异常批,能力尚可(Pp/Ppk)。

口径确认本页案例用的是整体标准差 \(\sigma_{\mathrm{overall}}\)(无子组、只有一批数据),给出的 1.18 / 1.12 是 Pp / Ppk,算法正确;并非用组内 \(\sigma\) 算 Cp/Cpk。
20.09
均值 \(\mu\)
近目标 20
0.567
标准差 \(\sigma\)
过程离散
1.18
Pp
整体\(\sigma\)
1.12
Ppk
含中心偏移
50件
样本量
分组可靠
形态
居中\(\cdot\)对称
目视正常,正态待检验
正态性检验
检验中…
—
能力
Ppk 1.12
尚可\((\geq 1.0)\)
规格
USL 22 / LSL 18
分布落在区间内
控制限(I-MR)
UCL 21.87 / LCL 18.32
由数据算出,看稳定性
提示\(Ppk\approx 1.12\) 属「能力尚可」;若要求 \(\geq 1.33\) 需降离散或收紧中心。
提示看柱形是否对称、有无孤岛——本例目视正常;是否真的正态请看下方「正态性检验」卡片(Anderson–Darling 数值,非目视判断)。
离群检验最大点 \(21.882\approx 3.1\sigma\),Grubbs 临界\(\approx 3.1\)(n=50, \(\alpha\)=0.05)处于边界:保留并标注为关注点,不盲目剔除。这正是现场判断的难点。
试算表复现 \(\to\)返回定义 \(\to\)注意事项 \(\to\)
注意事项来自教材 \(\cdot\) 忠实保留

直方图看形态+能力,分组与规格线是关键。

注意 1样本量够。n<50 分组失真,形态不可信。
注意 2组数适中。太多显噪、太少掩细节,\(k\approx 1+log_{2}n\)。
注意 3直方图\(\neq\)条形图。柱间无间隙,横轴是连续区间。
注意 4必须标规格线。不标 USL/LSL 无法谈能力。
注意 5看异常形态。双峰=混线,孤岛=异常批,偏斜=中心偏移。
注意 6Cpk 比 Cp 严。Cp 只看宽度,Cpk 还看居中,报告用 Cpk。
常见误用(新人高频)
  • 误用1 \(\cdot\) 样本<50 分组:攒够样本再画
  • 误用2 \(\cdot\) 组数乱定:\(k\approx 1+log_{2}n\)
  • 误用3 \(\cdot\) 当条形图用:柱间无间隙、连续区间
  • 误用4 \(\cdot\) 不标规格线:叠 USL/LSL 谈能力
  • 误用5 \(\cdot\) 忽略双峰/孤岛:异常形态先查原因
  • 误用6 \(\cdot\) 只看 Cp:报告用 Cpk(含居中)

直方图的两大局限(务必记住)

  • 不含时间顺序:稳定过程与周期漂移过程可能画出一模一样的直方图,故直方图不能判断过程是否受控——受控性只能靠控制图(第7篇)。
  • 规格限 \(\neq\) 控制限:规格限来自客户 / 设计(USL/LSL);控制限来自过程本身(由数据算出)。
图一:同样的数值分布,不同的收集时间顺序 \(\to\) 直方图完全相同
序列 A · 稳定随机序(按收集时间) 时间 → 序列 B · 缓慢单调漂移(按收集时间) 时间 → 两者画出的直方图(完全相同,示意)

左上「稳定随机序」、右上「缓慢单调漂移序」——两种收集时间顺序完全不同,但因为数值的分布相同,画出的直方图(下方)完全一致。直方图把时间维压平了,所以看不出过程是否失控——这正是它不能替代控制图的原因。

图二:规格限(红)vs 控制限(蓝)
同一过程分布:规格限(红)来自客户/设计,控制限(蓝)由数据算出 LSL 18 USL 22 LCL UCL 目标 20 测量值 →

USL/LSL = 目标值 \(\pm\) 公差(客户 / 设计给定),判「合格与否」;控制限 = \(\bar{X}\) \(\pm\) \(A_{2}\cdot\bar{R}\)(或 \(\bar{X}\) \(\pm\) \(3\sigma_{\mathrm{within}}\)),由过程数据算出,通常比规格限窄、且随过程变化,判「过程稳不稳」。两者来源与含义都不同,切勿混用。

正态性检验(目视不可靠,必须做数值检验)

直方图看形态只是「肉眼初判」,是否真正态要由统计检验给出 p 值——否则双峰 / 偏斜可能被掩盖,能力结论不可靠。

  • 何时必须做:凡要报 Cp/Cpk、Pp/Ppk 或任何「正态能力」之前;数据含自然界限(平面度、圆度、不良率、接近 0 的尺寸)时更要查;肉眼已见偏斜 / 双峰也应查。
  • 选哪个检验:\(n\geq 30\) 用 Anderson–Darling(A–D)(对尾部门槛敏感,最常用);n<50 用 Shapiro–Wilk(S–W);大样本也可用 K–S。本页案例用 A–D。
  • 怎么做:① 标准化 z=\((x-\mu)/\sigma\);② 升序按 A–D 公式算 \(A^{2}\) 并修正为 \(A^{2}*\);③ 由 \(A^{2}*\) 近似出 p 值;\(p\geq 0.05\) \(\to\) 不拒绝正态(可当正态用),p<0.05 \(\to\) 拒绝正态。
  • 非正态怎么办:先做 Box–Cox / Johnson 变换 \(\to\) 对变换后数据做能力分析;或直接按实际分布算实测 PPM,不要把非正态数据硬套 Cp/Cpk。

样本量与代表性

  • 能力分析一般要求 \(n\geq 100\)(或至少 25 个子组);n<50 形态不可信。
  • 数据须随机、独立、代表当前过程,不能用挑过的「好数据」。
  • 先层别再分组时每格样本被切薄,需设下限(如每格\(\geq 5\)),否则单层结论失真。

看完直方图,下一步做什么?(决策树)

  1. 看形态双峰 / 孤岛 / 平顶 \(\to\) 先回到层别法(第2篇)拆层,重新画。
  2. 单峰偏斜查是否人为剔除不合格品 / 调中心 / 做数据变换。
  3. 单峰对称叠规格线,算 Pp/Ppk(有子组再算 Cp/Cpk)。
  4. 判能力\(Ppk\geq 1.33\) \(\to\) 保持,转控制图监控(第7篇);\(1.0\leq Ppk\)<1.33 \(\to\) 中心偏则调机、离散大则做鱼骨图(第4篇);Ppk<1.0 \(\to\) 立即改善,先降离散。

术语速释

术语含义
USL / LSL规格上限 / 下限(来自客户或设计)
Cp / Cpk潜在(短期)过程能力,用组内 \(\sigma_{\mathrm{within}}\)
Pp / Ppk实际(长期)过程能力,用整体 \(\sigma_{\mathrm{overall}}\)
\(\sigma_{\mathrm{within}}\) / \(\sigma_{\mathrm{overall}}\)组内波动 / 整体波动
PPM百万分之不良率
正态性检验判断数据是否近似正态(A–D / S–W / K–S)
案例注意实践 \(\to\)回看方法 \(\to\)自测练习 \(\to\)
自测练习每次随机抽题 \(\cdot\) 提交即给解析

读完全篇再来测。提交后逐题标注对错并给解析。

概念回看 \(\to\)注意事项 \(\to\)
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